臺(tái)式X熒光光譜儀利用X射線能做無損檢測(cè)，而且可以對(duì)固體、粉末、液體等進(jìn)行直接檢測(cè)，然而，并不是所有固體都能直接檢測(cè)，類似有的樣品表面有污染、材料分布不均，就需要先對(duì)樣品進(jìn)行制樣處理，進(jìn)行制樣。雖然可以進(jìn)行無損檢測(cè)，但是一切粉末或是其他固體如需檢測(cè)還必須要在樣品放置區(qū)域上有一層麥拉膜，這層膜叫“麥拉膜”放置麥拉膜后防止一些粉塵進(jìn)入儀器內(nèi)部，保證數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確和儀器的安全。而臺(tái)式X熒光光譜儀隨可以進(jìn)行固體、液體、粉末狀的物質(zhì)的檢測(cè)，但也并不是所有此類物質(zhì)都可以檢測(cè)，這就需要制樣。
固體樣品可用未加工的或經(jīng)加工的大塊材料或原材料（如生鐵，鋼錠等）制取。另外，也可把熔爐的熔融物直接澆鑄到小模子里。為防止緩慢冷卻時(shí)發(fā)生的成分偏析，用激冷。經(jīng)拋光的原材料，或經(jīng)砂輪磨打的表面，一般是令人滿意的，但對(duì)后者仍需進(jìn)一步拋光，以減少表面粗糙度，并除去加工損傷的和沒有代表性的表面層。
（1）先進(jìn)行帶式磨削，然后用拋光器拋光，其砂紙粒度依次由粗變細(xì)；
（2）用車床、銑床或刨床進(jìn)行加工。
對(duì)于薄板和箔，必須仔細(xì)操作，以保證表面不出現(xiàn)翹曲、皺紋和折痕。特別要注意不能照射時(shí)間太長，以免受熱變形。薄板和箔必須襯上一塊剛性支撐物，或把它們粘在一起。
磨樣制樣
固體樣品的缺點(diǎn)
在固體樣品中，一般情況下不能采用各種添加法：如標(biāo)準(zhǔn)添加（或稀釋）法、低（或高）吸收稀釋法、內(nèi)標(biāo)法等。若所有樣品中已經(jīng)含有適當(dāng)?shù)?、一定濃度的?nèi)標(biāo)元素，則上述的兩種方法還是可用的。另外，也不能進(jìn)行化學(xué)濃縮和分離。表面結(jié)構(gòu)和成分有時(shí)也難取得一致?？赡芘坏浆F(xiàn)成的標(biāo)樣，而人工合成又很困難。
固體制樣注意事項(xiàng)
（1） 樣品的分析面不能有氣孔，析出物和多孔質(zhì)現(xiàn)象。
（2） 防止偏析。造成偏析的因素：合金的組成和密度；鑄模的材料、形狀和厚度；合金熔化溫度、澆鑄溫度和被澆鑄樣品的冷卻速度等。
鑄模
（3） 樣品的冷卻速度。當(dāng)樣品化學(xué)組成相同由于熱過程不同測(cè)得的X 射線強(qiáng)度不同，含C 量高的鋼鐵樣品這種現(xiàn)象尤為突出。冷卻速度不一致時(shí)，對(duì)輕元素C、Mg、Si、P、S 等存在很大影響；而V、Cr、W 等往往由于形成碳化物而影響分析。
因此，要求制作校準(zhǔn)曲線的樣品和分析樣品的熱處理過程要保持一致。此外，還和元素在基體金屬中的溶解度有關(guān)，元素的低固熔性會(huì)影響金屬的均勻性，快速冷卻能形成細(xì)晶粒的金相結(jié)構(gòu)，而大顆粒晶粒的邊界容易發(fā)生偏析和不均勻性。
以上只是是關(guān)于臺(tái)式X熒光光譜儀的固體樣品的制樣方法，下次我們來講臺(tái)式X熒光光譜儀的液體和粉末類的制樣方法……
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